ASTM D4294-Αναλυτής θείου φθορισμού XRF

ASTM D4294-Αναλυτής θείου φθορισμού XRF

Επισκόπηση

Αυτό το όργανο είναι ειδικά σχεδιασμένο για τον προσδιορισμό της περιεκτικότητας σε θείο στα προϊόντα πετρελαίου. Υιοθετεί την αρχή της{1}}διασποράς ενέργειας και ενσωματώνει ηλεκτρικές, μηχανικές και μικροεπεξεργαστικές τεχνολογίες, παρέχοντας γρήγορη και ακριβή ανάλυση. Πληροί τις απαιτήσεις επαναληψιμότητας και αναπαραγωγιμότητας των εθνικών προτύπων GB/T 17040 και GB/T 11140, προσφέροντας ένα αξιόπιστο μέτρο για τον προσδιορισμό της περιεκτικότητας σε θείο κατά τη διάρκεια διεργασιών παραγωγής πετρελαίου ή πετροχημικών.

Σκοπός

(1) Προσδιορίζει το ποσοστό μάζας του συνολικού θείου στο αργό πετρέλαιο, το πετρέλαιο, το βαρύ πετρέλαιο, το πετρέλαιο ντίζελ, τη βενζίνη και τη νάφθα.

(2) Προσδιορίζει τη συνολική περιεκτικότητα σε θείο σε προϊόντα χημικής βιομηχανίας άνθρακα, όπως το πρωτογενές βενζόλιο.

(3) Προσδιορίζει τη συνολική περιεκτικότητα σε θείο ή θειούχα σε άλλα δείγματα υγρής ή στερεάς σκόνης.

Χαρακτηριστικά οργάνου

(1) Ενσωματωμένος ηλεκτρικός, μηχανικός και μικροεπεξεργαστής σχεδιασμός – συμπαγής και αισθητικά ευχάριστος.

(2) Ευρύ φάσμα μετρήσεων για διάφορα προϊόντα. ταχεία ανάλυση με ελάχιστες τυπικές απαιτήσεις δείγματος.

(3) Υιοθετεί τη μέθοδο ανάλυσης αναλογίας έντασης φθορισμού με αυτόματη αντιστάθμιση θερμοκρασίας και πίεσης.

(4) Χωρητική οθόνη αφής 8 ιντσών (1024 × 768).

(5) Επιτρέπει τον προσδιορισμό της κατάστασης λειτουργίας και των ηλεκτρικών παραμέτρων μέσω δοκιμής επαναληψιμότητας και σάρωσης φάσματος χρησιμοποιώντας δείγματα αναφοράς.

(6) Χρησιμοποιεί κύτταρα δειγμάτων μιας χρήσης με φιλμ Mylar για την αποφυγή διασταυρούμενης-μόλυνσης. Οι κυψέλες δειγμάτων παρασκευάζονται χρησιμοποιώντας μια πολυλειτουργική συσκευή σχηματισμού πίεσης για γρήγορη και άνετη λειτουργία.

(7) Η θήκη δειγμάτων είναι εγκατεστημένη σε μια ράγα ολίσθησης για άνετη λειτουργία και για την αποφυγή μόλυνσης του συστήματος ανίχνευσης.

(8) Αποθηκεύει μεγάλη ποσότητα δεδομένων δοκιμής. Τα δεδομένα δοκιμής και οι καμπύλες βαθμονόμησης μπορούν να περιηγηθούν ανά πάσα στιγμή.

(9) Εξοπλισμένο με θερμικό εκτυπωτή για εύκολη αντικατάσταση χαρτιού.

(10) Αυστηρά μέτρα προστασίας από διαρροές: η κυψέλη δείγματος τοποθετείται σε συσκευή προστασίας από διαρροές και εισέρχεται στο σύστημα ανίχνευσης μαζί με τη συσκευή μόνο κατά τις διαδικασίες ανάλυσης δείγματος.

(11) Τα ασφαλή μέτρα προστασίας από ακτίνες Χ- διασφαλίζουν την ασφάλεια του χειριστή από την έκθεση σε ακτινοβολία ακτίνων Χ-.

Βασικές τεχνικές προδιαγραφές και παράμετροι

1. Πότε μπορώ να λάβω μια προσφορά τιμής;

Μπορείτε να επικοινωνήσετε μαζί μας ηλεκτρονικά ή να υποβάλετε μια ερώτηση. Συνήθως παρέχουμε μια προσφορά εντός 24 ωρών από τη λήψη του αιτήματός σας.

2. Πώς χειρίζεστε την υπηρεσία μετά την πώληση-για πελάτες στο εξωτερικό;

Για ζητήματα που προκύπτουν με τα προϊόντα μας, προσφέρουμε:

Κάλυψη εγγύησης 12 μηνών (δείτε λεπτομέρειες παρακάτω).

Ηλεκτρονική τεχνική καθοδήγηση για την απομακρυσμένη αντιμετώπιση προβλημάτων.

Ανταλλακτικά αποστέλλονται άμεσα με βάση τις ανάγκες σας.

Υποστήριξη στον ιστότοπο (εάν απαιτείται): Οι μηχανικοί μας μπορούν να ταξιδέψουν στο εξωτερικό για να επιλύσουν κρίσιμα ζητήματα.

3. Ποια είναι η περίοδος εγγύησης;

Η τυπική περίοδος εγγύησης είναι 12 μήνες (1 έτος). Σε αυτό το διάστημα παρέχουμε:

Δωρεάν τεχνική υποστήριξη.

Ανταλλακτικά για κατασκευαστικά ελαττώματα.

Λύσεις προσαρμοσμένες στο συγκεκριμένο πρόβλημά σας.

Δημοφιλείς Ετικέτες: astm d4294 x-αναλυτής θείου xrf φθορισμού ακτίνων xrf, Κίνα astm d4294 x{3}}αναλυτής θείου xrf φθορισμού ακτίνων κατασκευαστές, προμηθευτές, εργοστάσιο